為了地檢測(cè)產(chǎn)品涂層厚度，提高產(chǎn)品的質(zhì)量和性能，避免資源浪費(fèi)，目前表面涂層測(cè)厚儀已經(jīng)廣泛應(yīng)用在制造業(yè)、金屬加工業(yè)、化工業(yè)、商檢等檢測(cè)領(lǐng)域。

　　作為操作人員，我們應(yīng)該掌握表面涂層測(cè)厚儀的使用方法及注意事項(xiàng)。

　　(1)在進(jìn)行測(cè)試的時(shí)候要注意標(biāo)準(zhǔn)片基體的金屬磁性和表面粗糙度應(yīng)當(dāng)與試件相似。在進(jìn)行測(cè)試的時(shí)候要注意基體金屬的臨界厚度，如果大于這個(gè)厚度測(cè)量就不受基體金屬厚度的影響。

　　(2)在進(jìn)行測(cè)試的時(shí)候要注意儀器測(cè)頭和被測(cè)試件的要直接接觸，因此超聲波測(cè)厚儀在進(jìn)行對(duì)側(cè)頭清除附著物質(zhì)。

　　(3)在測(cè)量的時(shí)候要注意側(cè)頭與試樣表面保持垂直。在測(cè)量的時(shí)候要注意試件的曲率對(duì)測(cè)量的影響。因此在彎曲的試件表面上測(cè)量時(shí)不可靠的。

　　(4)測(cè)量前要注意周?chē)渌碾娖髟O(shè)備會(huì)不會(huì)產(chǎn)生磁場(chǎng)，如果會(huì)，將會(huì)干擾磁性測(cè)厚法的測(cè)厚儀。

　　(5)測(cè)量時(shí)要注意不要在內(nèi)轉(zhuǎn)角處和靠近試件邊緣處測(cè)量，因?yàn)橐话愕臏y(cè)厚儀對(duì)試件表面形狀的忽然變化很敏感。

　　(6)在測(cè)量時(shí)要保持壓力的恒定，否則會(huì)影響測(cè)量的讀數(shù)。

　　哪些因素會(huì)影響表面涂層測(cè)厚儀的使用呢?操作人員也應(yīng)該有所了解。

　　1. 磁性法涂層測(cè)厚儀測(cè)量涂層厚度受基體金屬磁性變化的影響，周?chē)鞣N電氣設(shè)備所產(chǎn)生的強(qiáng)磁場(chǎng)，會(huì)嚴(yán)重干擾磁性測(cè)厚工作。

　　2. 為了避免熱處理和冷加工因素的影響，應(yīng)使用與試件基體金屬具有相同性質(zhì)的標(biāo)準(zhǔn)片對(duì)儀器進(jìn)行校準(zhǔn);

　　3. 對(duì)試件表面形狀的陡變敏感，因此在靠近試件邊緣或內(nèi)轉(zhuǎn)角處進(jìn)行測(cè)量是不可靠的;試件的曲率對(duì)測(cè)量有影響，隨著曲率半徑的減少明顯地增大，因此，在彎曲試件的表面上測(cè)量也是不可靠的;

　　4. 探頭會(huì)使軟涂層試件變形，因此在這些試件上測(cè)不出可靠的數(shù)據(jù);

　　5. 基體金屬和涂層的表面粗糙度對(duì)測(cè)量有影響。粗糙度增大，影響增大，粗糙表面會(huì)引起系統(tǒng)誤差和偶然誤差，每次測(cè)量時(shí)，在不同的位置上應(yīng)增加測(cè)量的次數(shù)，以克服這種偶然誤差。如果基體上基體金屬粗糙，還必須在未涂的粗糙度相類(lèi)似的基體金屬試件上取幾個(gè)位置校對(duì)儀器的零點(diǎn)，或用對(duì)基體金屬?zèng)]有腐蝕的溶液溶解去除涂層后，再校對(duì)儀器的零點(diǎn);

　　6. 基體金屬的電導(dǎo)率對(duì)測(cè)量有影響，而基體金屬的電導(dǎo)率與其材料成份及熱處理方法有關(guān)。使用與試件基體金屬具有相同性質(zhì)的標(biāo)準(zhǔn)片對(duì)儀器進(jìn)行校準(zhǔn);

　　7. 每一種表面涂層測(cè)厚儀都有一個(gè)臨界厚度，大于這個(gè)厚度，測(cè)量就不受基體金屬厚度的影響。

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